数显测微头MHD-MB型

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数显测微头MHD-MB型

数显测微头MHD-MB型图片

型号: MHD-50MB
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型号:	MHD-50MB

产品介绍

MHD-MB系列数显测微头

配备有数显显示屏和数据输出功能。

MHN-MX(IP65)/MXN(IP65)数显测微头，达到IP65防护等级。

配置数据输出端口，可将测量数据输出到统计过程控制系统或计量系统。

技术参数

货号	型号	测量范围 (mm)	分辨力 (mm)	分度值(微分筒) (mm)	轴套	轴套外径 (mm)	测量面	分度特征	最大允许误差 JMPE (µm)
164-163	MHD-50MB	0 - 50	0.001	—	直柄型	18	平面 (测量面为硬质合金)	—	±3µm
350-251-30	MHN1-25MX*1	0 - 25	0.001	0.01	直柄型	10	平面 (测量面为硬质合金)	标准刻度	±2µm
350-252-30	MHN2-25MX*1				带有锁紧螺母		平面 (测量面为硬质合金)
350-253-30	MHN3-25MX*1				直柄型		球面 (SR4) (测量面为硬质合金)
350-254-30	MHN4-25MX*1				带有锁紧螺母		球面 (SR4) (测量面为硬质合金)
350-281-30	MHN1-25MX(IP65)*2				直柄型	12	平面 (测量面为硬质合金)
350-282-30	MHN2-25MX(IP65)*2				带有锁紧螺母		平面 (测量面为硬质合金)
350-283-30	MHN3-25MX(IP65)*2				直柄型		球面 (SR4) (测量面为硬质合金)
350-284-30	MHN4-25MX(IP65)*2				带有锁紧螺母		球面 (SR4) (测量面为硬质合金)
350-261-30	MHN1-25MXN(IP65)*2				直柄型		平面 (测量面为硬质合金)

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